50nm、質量分解能(m/Δm): 5,000@m/z=56を両立。
※トヤマ社内にて分析
粒子表面のみならず、断面の分析も可能
※市販トナー(シアン)使用
トヤマ社内にて分析
SPM断面のSIMSマッピング
※SPM: Suspended Particulate Matter(浮遊粒子状物質)
Ref.) T. Sakamoto et. al., Applied Surface Science, 2008, 255,1617.
信号イオン発生効率向上と有機物高感度分析を可能とする
スパッタされる中性粒子を分析することでSIMSよりも高感度な分析が可能です。 イオンビームではイオン化しにくい金属や有機物の分析に有効です。
イオンビームによってスパッタされる粒子のほとんどが中性粒子と言われており、その中性粒子をレーザーによってイオン化することで高感度分析を行うことができます。
当社で行った金属試料や有機物試料の分析において、SIMSよりもSNMSのほうがカウント数の多いマススペクトルを取得できています。
Ref.)T. Ishikawa et…,J. Surf. Sci. Jpn., Vol.35, P383 (2014)
本装置は、科学技術振興機構(JST)の先端計測技術・機器開発事業の機器開発「収束イオンビーム/レーザーイオン化による単一微粒子の履歴解析装置」(リーダー:東京工業大学 藤井正明教授、開発担当:工学院大学 坂本哲夫教授)及び、研究成果展開事業先端計測技術・機器開発プログラム、プロトタイプ実証・実用化プログラム「FIB光イオン化ナノ質量イメージング装置の実用化開発」(リーダー:㈱トヤマ遠藤 克己、サブリーダー:工学院大学 坂本哲夫教授)の成果によるものです。
性能 | 一次イオンビーム種 | 30keVGa⁺ |
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面分解能(マッピング) | 50nm | |
測定範囲 | 1µm~500μm | |
質量分析器 | 飛行時間型(TOF) | |
質量分解能(m/z=56) | m/Δm=5000 | |
試料大きさ | 縦1cm × 横1cm ×厚さ3mm | |
マニピュレータ | 五軸駆動ステージ | |
オプション | SEM、電荷中和銃、ガスイオン銃、トランスファーベッセル、ほか |
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